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类型 1 量具研究 

介绍

使用 类型 1 量具研究 可评估测量过程的能力。此研究基于来自一个部件的多个测量值来评估偏倚和重复性的组合效应。执行量具 R&R 研究之前应执行类型 1 量具研究。

 

GageType11

参数设置

  • 测量数据:在数据页签上表格列名称
  • 参考值:输入数字参考值
  • 公差限:必须指定公差范围或单个规格。过程公差是部件在仍满足客户要求的前提下可具有的变异数量。一般而言,过程公差是规格上限和规格下限之间的差。
  • 规格上限 - 规格下限:输入规格限之间的差值。这也称为公差范围。
  • 仅规格下限:输入规格下限。理想情况下,任何测量值均不小于此值。
  • 仅规格上限:输入规格上限。理想情况下,任何测量值均不大于此值。
  • 研究变异的标准差倍数:一般为6
  • 计算Cg时使用的公差百分比:一般为20

类型1量具研究数据注意事项:

  • 参考部件必须具有已知标准测量值
  • 单个参考部件由单个操作员多次测量以评估测量系统的重复性。必须知道参考部件的实际测量值。
  • 要进行充分研究,您应具有 50 个测量值
  • 系统 计算重复性和偏倚统计量需要至少 10 个测量值。但是要进行充分研究,需要 50 个测量值。
GageType12

基本统计量

参考值:输入的参考值

均值:样本均值

标准差:样本标准差

6*标准差(SV):6倍标准差

公差:输入的公差值

偏倚

偏倚:测量平均值和参考值之间的差异

T:是用于检验偏倚 = 0 的原假设对比偏倚 ≠ 0 的选择假设的 t 统计量

P值:p 值与 t 统计量相关联。是假定偏倚为零的情况下,t 统计量等于或大于计算得到的 t 统计量的概率。t 统计量增加时,p 值减小。p 值越小,反对偏倚 = 0 的原假设的证据越充足

能力

Cg: 比较公差与测量变异

Cgk:比较公差与测量变异和偏倚

%变异(重复性):重复性与带有公差的量具重复性进行比较的变异百分比。变异百分比通过研究变异除以公差然后乘以 100 计算得出

%变异(重复性和偏倚):重复性和偏倚与带有公差的量具重复性和偏倚进行比较的变异百分比