参数设置
- 数据列：在数据数据页签的列名称
- 变量（U）：每次采集样本大小
- K：确定上下限系数，一般值为3到6
使用 单位缺陷数（U ）控制图 监视单位缺陷数（其中每个项目可具有多个缺陷）。U控制图基于泊松分布。 使用此控制图可以监视过程在一段时间内的稳定性，以便您可以标识和更正过程中的不稳定性。
U 控制图标绘每个单位的缺陷（也称为不合格）数。一个产品可能有一个或多个缺陷，但在功能和性能方面仍可接受。中心线代表每个单位（或子组）的平均缺陷数。控制限设置在距离中心线上方和下方 3 个标准差的位置，它们显示缺陷率中的预期变异量。
U 控制图用于估计单位产品缺陷数的统计量是样本中的缺陷数与样本中的单位产品数之比，u图亦适用于样本大小ni不等的情况，但ni也不宜相差太大，否则控制图的上、下限也是阶梯式的，而非直线。
如果您只能确定每项是否为缺陷品，请使用P控制图或Laney P'控制图来绘制缺陷品的比率，或者使用NP控制图来绘制缺陷品的数量。
如果您的数据存在过度离散或欠离散现象，则Laney U'控制图可更加准确地区分常见原因变异和特殊原因变异。过度离散可能导致传统U控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致传统U控制图显示过少超出控制限的点。Laney U'控制图可调整这些条件。您可以使用U控制图诊断检验数据是否存在过度离散和欠离散现象。
您应当按照数据的收集顺序来输入数据，让最旧的数据位于工作表的顶部。
按照均匀的时间间隔收集数据，如每小时一次、每班次一次或每天一次。选择一个时间间隔，该时间间隔应当足够短，以便您可以在发生过程更改之后立即识别此更改。
子组是相似项的集合，这些项是您要评估的过程的输出代表。子组可以是一个单位，也可以是大小相似的多个单位的集合。如果子组是多个单位的集合，则应在相同的过程条件（如人员、设备、供应商或环境）下收集子组。如果不收集子组（即，其中的项具有相同的过程条件）数据，则可能无法区分常见原因变异和特殊原因变异。
如果子组不够大，则根据数据估计的控制限可能不准确。
如果您没有足够多的子组，则您仍然可以使用控制图，但您应当将所得结果视为初步结果，因为控制限可能不精确。如果要经常使用控制图，请在收集了足够多的子组之后重新评估控制限。
例如，一家 LCD 制造商希望监视 19 英寸 LCD 液晶屏的坏点数。技术人员记录每个屏幕的坏点数。每个子组具有不同数目的屏幕。制造商使用 U 控制图来监视每个屏幕的坏点平均数。