参数设置
- 数据列：在数据页签上表格列名称
- 变量（U）：每次采集样本大小
- K：确定上下限系数，一般值为3到6
对于每个产品项有多个缺陷的情况，可使用 缺陷数（C）控制图 监视缺陷数。只有当子组大小相同时才应使用 C 控制图。使用此控制图可以监视过程在一段时间内的稳定性，以便您可以标识和更正过程中的不稳定性。
当子组大小相等时，C 控制图绘制每个子组的缺陷（也称为不合格）数目。一个产品可能有一个或多个缺陷，但在功能和性能方面仍可接受。中心线代表每个子组的平均缺陷数。控制限（设定为位于中心线上方和下方 3 个标准差的距离）显示缺陷率中预期的变异量。
C控制图主要用于判断生产中的设备或产品缺陷数是否处于所要求的水平，它是通过对样本缺陷数的变化来进行控制的。它和pn控制图相类似，要求样本量是固定的。但这里讲的样本量与过去讲的抽样样本容量n的概念有所不同。泊松分布是二项分布时的极限形式，这里n是样本容量。就如同某台设备可能发生故障的地方很多，又如在输油管路中，钢管可能发生漏油的地方很多，也就是可能发生故障的点很多。
而要求固定的样本量是指机器或长度的度量相同，即同一种机器或同一长度的钢管。例如，每次都统计同一长度的钢管的缺陷数，或每次统计一平方米布匹出现的疵点数等。在实际应用中，样本量的大小可以根据实际情况而定，但一经确定就要固定下来
如果您只能确定每项是否为缺陷品，请使用P控制图或Laney P'控制图来绘制缺陷品的比率，或者使用NP控制图来绘制缺陷品的数量。
如果您的数据存在过度离散或欠离散现象，则Laney U'控制图可更加准确地区分常见原因变异和特殊原因变异。过度离散可能导致C控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致C控制图显示过少超出控制限的点。Laney U'控制图可调整这些条件。您可以使用U控制图诊断检验数据是否存在过度离散和欠离散现象。
您应当按照数据的收集顺序来输入数据，让最旧的数据位于工作表的顶部。
按照均匀的时间间隔收集数据，如每小时一次、每班次一次或每天一次。选择一个时间间隔，该时间间隔应当足够短，以便您可以在发生过程更改之后立即识别此更改。
子组是相似项的集合，这些项是您要评估的过程的输出代表。子组可以是一个单位，也可以是大小相似的多个单位的集合。例如，您可以记录一个 LCD 面板（一个单位）的表面缺陷数，也可以记录大小都相同的 LCD 面板集合的表面缺陷数。
如果子组是多个单位的集合，则应在相同的过程条件（如人员、设备、供应商或环境）下收集子组。如果不收集子组（即，其中的项具有相同的过程条件）数据，则可能无法区分常见原因变异和特殊原因变异。
如果子组大小不相等，请使用 U 控制图 或 Laney U' 控制图。
如果子组不够大，则根据数据估计的控制限可能不准确。
如果您没有足够多的子组，则您仍然可以使用控制图，但您应当将所得结果视为初步结果，因为控制限可能不精确。如果要经常使用控制图，请在收集了足够多的子组之后重新评估控制限。
例如，一家 LCD 制造商希望监视 19 英寸 LCD 液晶屏上的缺陷。技术人员以 10 个屏幕为一个子组，记录每小时的坏点数，并使用 C 控制图来监视坏点数量。