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P控制图

使用不合格品率(P)控制图监视缺陷品比率(每个产品项都划分为两个类别中的一类,例如成功或失败)。P控制图是基于二项分布,使用此控制图可以监视过程在一段时间内的稳定性,以便您可以标识和更正过程中的不稳定性。

P控制图绘制每个子组的缺陷品(也称为不合格单元)比率。中心线是缺陷的平均比率。控制限设置在距离中心线上方和下方3个标准差的位置,它们显示子组比率中的预期变异量。

二项分布需要满足如下的条件:

  • 样本的抽取是相互独立的
  • 每次抽样只能有两种可能的结果:好或坏,良品或不良品
  • 每次抽样成功概率(良品率)和失败概率(不良品率)不变
  • P控制图除了不合格品率外,合格率、材料利用率、缺勤率和出勤率等也可使用P控制图。
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Laney P'控制图

使用 Laney P' 控制图监视过程中生产的缺陷品比率,并针对您数据中的过度离散或欠离散进行调整。过度离散可能导致传统 P 控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致传统 P 控制图显示过少超出控制限的点。Laney P' 控制图可调整这些条件。

Laney P' 控制图与传统 P 控制图十分相似。这两种控制图都可监视过程中生产的缺陷品比率。但是,如果您的数据存在过度离散或欠离散现象,Laney P' 控制图可更加准确地区分常见原因变异和特殊原因变异。

过度离散可能导致传统 P 控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致传统 P 控制图显示过少超出控制限的点。Laney P' 控制图可调整这些条件。

Sigma Z 用于度量数据中的过度离散或欠离散的程度,指示已针对过度离散或欠离散对控制图上的控制限执行的调整量。

Sigma Z 值为=1时,表示无需执行调整。在这种情况下,Laney P' 控制图上的控制限与传统 P 控制图上的控制限完全相同。
Sigma Z 值>1时,代表数据过渡离散,Laney P' 控制图上的控制限比传统 P 控制图上的控制限更宽。
Sigma Z 值<1时,代表数据欠离散,Laney P' 控制图上的控制限比传统 P 控制图上的控制限更窄。

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NP控制图

使用 不良品数(NP) 控制图监视缺陷品数量(每个产品项都划分为两个类别中的一类,例如成功或失败)。P控制图是基于二项分布, 使用此控制图可以监视过程在一段时间内的稳定性,以便您可以标识和更正过程中的不稳定性。

NP 控制图绘制缺陷品(也称为不合格单元)数目。中心线代表平均缺陷品数量。 控制限(设定为位于中心线上方和下方 3 个标准差的距离)显示缺陷品数量中预期的变异量。

NP图表示不合格品的实际数量而不是与样本的比率。np管制图的应用要求为检验数最好相同,或者只考核不良数的应用。如检验数不同,则建议不用此管制图,因为通常不良数管制图是不良率管制图的一个补充。

NP管制图的应用要求为检验数最好相同,或者只考核不良数的应用。如检验数不同,则建议不用此管制图,因为通常不良数管制图是不良率管制图的一个补充。NP和P图适用的基本情况相同,通常在制程中有以下几种状况使用不NP比较多

自动化程度高
在自动化程度较高,人为因素相对较少,对不良分析是以计时为主时(此时也可以用不良率管制图)。

不良数低
当不良相对较低时,用PPM不良率分析又较难时。

批量低
当批量相对较低,用不良率难以分析。

各批检验数相同
各批检验数相同,也可用不良数管制图。

不合格品实际数量比不合格品率更有意义或更容易报告。

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U控制图

使用 单位缺陷数(U )控制图 监视单位缺陷数(其中每个项目可具有多个缺陷)。U控制图基于泊松分布。 使用此控制图可以监视过程在一段时间内的稳定性,以便您可以标识和更正过程中的不稳定性。

U 控制图标绘每个单位的缺陷(也称为不合格)数。一个产品可能有一个或多个缺陷,但在功能和性能方面仍可接受。中心线代表每个单位(或子组)的平均缺陷数。控制限设置在距离中心线上方和下方 3 个标准差的位置,它们显示缺陷率中的预期变异量。

U 控制图用于估计单位产品缺陷数的统计量是样本中的缺陷数与样本中的单位产品数之比,u图亦适用于样本大小ni不等的情况,但ni也不宜相差太大,否则控制图的上、下限也是阶梯式的,而非直线。

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Laney U'控制图

使用 Laney U' 控制图用于监视过程的缺陷率,并调整您数据中的过度离散或欠离散现象。过度离散可能导致传统 U 控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致传统 U 控制图显示过少超出控制限的点。Laney U' 控制图可调整这些条件。

Laney U' 控制图与传统 U 控制图十分相似。这两种控制图都可监视过程中生产的单位缺陷数。但是,如果您的数据存在过度离散或欠离散现象,Laney U' 控制图可更加准确地区分常见原因变异和特殊原因变异。

过度离散可能导致传统 U 控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致传统 U 控制图显示过少超出控制限的点。Laney U' 控制图可调整这些条件。

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C控制图

对于每个产品项有多个缺陷的情况,可使用 缺陷数(C)控制图 监视缺陷数。只有当子组大小相同时才应使用 C 控制图。使用此控制图可以监视过程在一段时间内的稳定性,以便您可以标识和更正过程中的不稳定性。

当子组大小相等时,C 控制图绘制每个子组的缺陷(也称为不合格)数目。一个产品可能有一个或多个缺陷,但在功能和性能方面仍可接受。中心线代表每个子组的平均缺陷数。控制限(设定为位于中心线上方和下方 3 个标准差的距离)显示缺陷率中预期的变异量。

C控制图主要用于判断生产中的设备或产品缺陷数是否处于所要求的水平,它是通过对样本缺陷数的变化来进行控制的。它和pn控制图相类似,要求样本量是固定的。但这里讲的样本量与过去讲的抽样样本容量n的概念有所不同。泊松分布是二项分布时的极限形式,这里n是样本容量。就如同某台设备可能发生故障的地方很多,又如在输油管路中,钢管可能发生漏油的地方很多,也就是可能发生故障的点很多。

而要求固定的样本量是指机器或长度的度量相同,即同一种机器或同一长度的钢管。例如,每次都统计同一长度的钢管的缺陷数,或每次统计一平方米布匹出现的疵点数等。在实际应用中,样本量的大小可以根据实际情况而定,但一经确定就要固定下来 

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