参数设置
- 数据列：在数据数据页签的列名称
- 变量（U）：每次采集样本大小
- K：确定上下限系数，一般值为3到6
使用 不良品数（NP） 控制图监视缺陷品数量（每个产品项都划分为两个类别中的一类，例如成功或失败）。P控制图是基于二项分布， 使用此控制图可以监视过程在一段时间内的稳定性，以便您可以标识和更正过程中的不稳定性。
NP 控制图绘制缺陷品（也称为不合格单元）数目。中心线代表平均缺陷品数量。 控制限（设定为位于中心线上方和下方 3 个标准差的距离）显示缺陷品数量中预期的变异量。
NP图表示不合格品的实际数量而不是与样本的比率。np管制图的应用要求为检验数最好相同，或者只考核不良数的应用。如检验数不同，则建议不用此管制图，因为通常不良数管制图是不良率管制图的一个补充。
NP管制图的应用要求为检验数最好相同，或者只考核不良数的应用。如检验数不同，则建议不用此管制图，因为通常不良数管制图是不良率管制图的一个补充。NP和P图适用的基本情况相同，通常在制程中有以下几种状况使用不NP比较多
自动化程度高
在自动化程度较高，人为因素相对较少，对不良分析是以计时为主时（此时也可以用不良率管制图）。
不良数低
当不良相对较低时，用PPM不良率分析又较难时。
批量低
当批量相对较低，用不良率难以分析。
各批检验数相同
各批检验数相同，也可用不良数管制图。
不合格品实际数量比不合格品率更有意义或更容易报告。
项必须分为两个类别之一（如通过或失败）缺陷品有一个或多个使其不可接受的缺陷。如果您只能确定某项是否为缺陷品，请使用此控制图。如果可以统计每项的缺陷数，请使用 U 控制图、Laney U' 控制图 或 C 控制图 来绘制单位缺陷数。如果您的数据存在过度离散或欠离散现象，则传统的属性控制图可能会产生误解 如果您的数据存在过度离散或欠离散现象，则 Laney P' 控制图 可更加准确地区分常见原因变异和特殊原因变异。过度离散可能导致 NP 控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致 NP 控制图显示过少超出控制限的点。Laney P' 控制图可调整这些条件。您可以使用 P 控制图诊断 检验数据是否存在过度离散和欠离散现象。
由于控制图会检测随时间发生的变化，因此数据顺序非常重要。您应当按照数据的收集顺序来输入数据，让最旧的数据位于工作表的顶部。
按照均匀的时间间隔收集数据，如每小时一次、每班次一次或每天一次。选择一个时间间隔，该时间间隔应当足够短，以便您可以在发生过程更改之后立即识别此更改。
子组是您要评估的过程中相似项的样本。应在相同的过程条件（如人员、设备、供应商或环境）下收集各子组的项。
如果子组是多个单位的集合，则应在相同的过程条件（如人员、设备、供应商或环境）下收集子组。如果不收集子组（即，其中的项具有相同的过程条件）数据，则可能无法区分常见原因变异和特殊原因变异。
如果子组不够大，则根据数据估计的控制限可能不准确。所需的子组大小取决于缺陷品的平均比率。
如果您没有足够多的子组，则您仍然可以使用控制图，但您应当将所得结果视为初步结果，因为控制限可能不精确。如果要经常使用控制图，请在收集了足够多的子组之后重新评估控制限。
例如，送货服务经理可以使用 NP 控制图来监视 2 个月来送货车每天不工作的数量。不工作的送货车将被视为缺陷单元。