凯特勒科技 - 专注提供云SPC,MSA软件解决方案
全国服务电话:0755-28457327 邮箱地址:YunSpc@163.com
P控制图

介绍

使用不合格品率(P)控制图监视缺陷品比率(每个产品项都划分为两个类别中的一类,例如成功或失败)。P控制图是基于二项分布,使用此控制图可以监视过程在一段时间内的稳定性,以便您可以标识和更正过程中的不稳定性。

P控制图绘制每个子组的缺陷品(也称为不合格单元)比率。中心线是缺陷的平均比率。控制限设置在距离中心线上方和下方3个标准差的位置,它们显示子组比率中的预期变异量。

二项分布需要满足如下的条件:

  • 样本的抽取是相互独立的
  • 每次抽样只能有两种可能的结果:好或坏,良品或不良品
  • 每次抽样成功概率(良品率)和失败概率(不良品率)不变
  • P控制图除了不合格品率外,合格率、材料利用率、缺勤率和出勤率等也可使用P控制图。
P(P)控制图 参数设置

参数设置

  • 数据列:在数据页签上表格列名称
  • 变量(U):每次采集样本大小
  • K:确定上下限系数,一般值为3到6

P控制图数据注意事项

项必须分为两个类别之一(如通过或失败)缺陷品有一个或多个使其不可接受的缺陷。如果您只能确定某项是否为缺陷品,请使用此控制图。如果可以统计每项的缺陷数,请使用U控制图、LaneyU'控制图或C控制图来绘制单位缺陷数。如果您的数据存在过度离散或欠离散现象,则传统的属性控制图可能会产生误解如果您的数据存在过度离散或欠离散现象,则LaneyP'控制图可更加准确地区分常见原因变异和特殊原因变异。过度离散可能导致传统P控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致传统P控制图显示过少超出控制限的点。LaneyP'控制图可调整这些条件。您可以使用P控制图诊断检验数据是否存在过度离散和欠离散现象。

由于控制图会检测随时间发生的变化,因此数据顺序非常重要。您应当按照数据的收集顺序来输入数据,让最旧的数据位于工作表的顶部。

应当按照适当的时间间隔收集数据

按照均匀的时间间隔收集数据,如每小时一次、每班次一次或每天一次。选择一个时间间隔,该时间间隔应当足够短,以便您可以在发生过程更改之后立即识别此更改。

采用子组形式收集数据

子组是您要评估的过程中相似项的样本。应在相同的过程条件(如人员、设备、供应商或环境)下收集各子组的项。

如果子组是多个单位的集合,则应在相同的过程条件(如人员、设备、供应商或环境)下收集子组。如果不收集子组(即,其中的项具有相同的过程条件)数据,则可能无法区分常见原因变异和特殊原因变异。

子组必须足够大

如果子组不够大,则根据数据估计的控制限可能不准确。所需的子组大小取决于缺陷品的平均比率。

数据必须包括足够多的子组才能获取精确的控制限。

如果您没有足够多的子组,则您仍然可以使用控制图,但您应当将所得结果视为初步结果,因为控制限可能不精确。如果要经常使用控制图,请在收集了足够多的子组之后重新评估控制限。

P(P)控制图 示例

例如,送货服务经理可以使用P控制图来监视2个月来送货车每天不工作的比率。不工作的送货车将被视为缺陷品。

结果解释

  • 标准差:系统根据所选参数计算出的标准差值
  • I控制图的检验结果:系统检验出I图不合格点
  • p控制图的检验结果:系统检验出p图不合格点